OpTecBB Mitglied
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Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM )
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| Anschrift: | 12203 Berlin |
| | Unter den Eichen 44-46 |
| | Bundesland: Berlin |
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| | Tel.: 030/81041820 |
| | Fax: 030/81041827 |
| | Email: georg.reiners@bam.de |
| | URL: http://www.bam.de/fg-82.htm |
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| Schwerpunkte; | - Aus- und Weiterbildung - UV - und Röntgentechnologien - Biomedizinische Optik - Lasertechnik - Multisensorik, Visualisierung und Signalverarbeitung - Optische Prozessmesstechnik - Terahertz-Technologie
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| Mitglied seit: | 17.07.2002 |
| Profil: | ProfilBewertung und Begutachtung der Zuverlässigkeit und Qualitätssicherung beschichteter bzw. oberflächen-modifizierter Bauteile sowie der anwendungsbezogenen, komplexen Oberflächenprüf- und Analyseverfahren.
Funktionssicherung, Schadensanalyse und Schadens-verhütung von Verschleiß- und Korrosionsschutzschichten, elektrischen, optischen und magnetischen Funktions-schichten sowie Schichtsystemen für die Sensorik.
Entwicklung und Bereitstellung von Referenzverfahren und Referenzschichtsystemen zur Charakterisierung der Eigenschaften und des Verhaltens von beschichteten bzw. oberflächen-modifizierten Bauteilen.
Erarbeitung und Anpassung von Regelsetzungen und Normen im Bereich der chemischen Oberflächen- und Dünnschichtanalytik, der Meß- und Prüfverfahren sowie der Verfahrens- und Produkt-kennzeichnung in der Oberflächen- und Schichttechnik.Service* Vakuumbeschichtungen (PVD, CVD)
* Sol-Gel-Beschichtungen, Spin Coating
* Chemische Oberflächenanalytik (TOF-SIMS, ESCA, AES, GDOES, EDX, etc.)
* Prüfung von Oberflächen und Schichten (Rauheit, Schichtdicke, Haftung, Brechungsindex, Leitfähigkeit, Dielektrizitätskonstante, etc.)
* Aufklärung von SchadensfällenKompetenzenNanotechnologien, PVD, CVD, Plasmaätzen, Pulslaser-Abscheidung, Sol-Gel-Beschichtung, Galvanotechnik, Lithographie, Siebdruck, Elektrochemie, Oberflächenanalytik/-abbildung (SEM, STM, AFM, Weißlichtinterferometrie, EDX, ESCA, AES, TOF-SIMS, GDOES, FT-IR, RAMAN, Ellipsometrie, XRD/GIXRD), Femtosekunden-Pulslaser,EinrichtungenClusterbeschichtungsanlage (ionengestütztes Aufdampfen + Mikrowellenplasma + RF-Sputtern; Ardenne Anlagentechnik), Femtosekundenpulslaser, TOF-SIMSKooperationenlaufende Kooperationen mit div. KMU's und Großindustrie sowie div. Forschungseinrichtungen.KooperationsangeboteDie Abteilung I der BAM betreibt ein breites Spektrum analytischer Methoden, insbesondere in den Schwerpunktbereichen Spurenanalytik, Präzisionsanalytik von Hauptkomponenten, Strukturanalytik, Charakterisierung der Morphologie von Stoffen sowie lokalisierte Spektroskopie.
Als Leistungen für Auftraggeber werden u. a. folgende komplexe Problemstellungen bearbeitet:
Validierung von Analyseverfahren und Qualifizierung analytischer Geräte nach unterschiedlichen Kriterien der Qualität und Sicherheit sowie nach Anwendungsbezügen
Entwicklung und Zertifizierung von Referenzmaterialien
Kompetenzbewertung analytischer Laboratorien
Analytischer Spezialservice, wie z. B. Multielementanalytik bis in den extremen Spurenbereich, zeitauflösende Fluoreszenzspektroskopie, Röntgenstruktur- und Phasenanalyse, Thermoanalyse, Ionenstrahlanalytik, Photonenaktivierungsanalyse und Computertomographie
Information und Beratung zur Unterstützung von Wirtschaft, Behörden und Politik in allen Fragen der chemischen Analytik. |
| Gründung: | 1871 |
| Suchworte: | 1 Laser und Optoelektronik 1.01 Festkörperlaser 1.02 Gaslaser 1.03 Diodenlaser 1.04 Sonstige Laser 1.07 Laser-Strahlenschutz 3 Mess- und Prüftechnik/sensorik 3.01 Mess-Systeme zur Charakterisierung von Lasern 3.02 Mess- und Analysesysteme für optische Größen 3.03 Systeme zur Messung optischer Parameter von Geräten und Systemen 4 Dienstleistungen 4.06 Aus- und Weiterbildung 4.07 Behörden, Institute, Organisationen, Verbände 4.08 Fachinformationen, Datenbanken 4.10 Forschung und Entwicklung 4.11 Kundenspezifische Problemlösungen 4.12 Technologieberatung und -vermittlung 7 Laser-Fertigungstechnik 7.01 Laser-Materialbearbeitungssysteme 7.06 Lasergestützte Mess- und Prüfsysteme 8 Lasermedizintechnik 8.01 Medizinische Lasersysteme |
| | | | | letzte Änderung: 06.06.2007 |
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